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VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以*空间分辨率的一个测试平台。它是一个模块化配置的系统，可以实现如下微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：
VersaSCAN SECM 扫描电化学显微镜系统整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的超微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率，可应用于反应动力学，生物传感器，催化剂和腐蚀机理等研究。

VersaSCAN SVET 扫描振动电极测量系统整合了定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和单丝探针。 SVET技术测量溶液中的电压降。电解液中的电压降是由样品表面的局部电流所导致的。 SVET提供高分辨率可应用于不均匀腐蚀，点蚀，焊接和电耦合等。此外，SVET还有生物方面的应用。

VersaSCAN LEIS 微区电化学阻抗测试系统整合了 定位系统和VersaSTAT 3F 及差分电压选项, 静电计，双探头探针。 LEIS技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值，来计算局部阻抗，LEIS加入高的空间分辨率，可应用于有机涂层，裸露的金属腐蚀，和所有和增加的交流技术相关的应用。

VersaSCAN SKP 扫描开尔文探针系统整合定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和钨丝探针。SKP 技术测量探针和样品表面位置的相对功函差。这是一个非破坏的技术，可运行于环境气氛，潮湿气氛和无电解液情况下。相对功函已经被证实与腐蚀电位 (Ecorr)相关。SKP 提供的高空间分辨率可应用于材料，半导体，金属腐蚀，甚至这些材料上的涂层。

VersaSCAN SDC 电解液微滴扫描系统整合电位系统和一台VersaSTAT,  一个机械加工的PTFE 滴液系统头, 以及一个蠕动泵。SDC 技术对电解液微滴进行电化学测量, 固定电极/电解液界面的面积。SDC提供高空间分辨率可应用于动力学，腐蚀，流体研究和任何研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。

VersaSCAN OSP 非触式光学微区形貌测试系统整合定位系统和高精度，高速度激光位移传感器。 OSP 技术使用漫反射机理用于样品的表面形貌。OSP可作为非常灵敏水平的机制用于表面形貌测量，或绘制地形图与其它扫描探针技术一起应用于样品表面定距离扫描测试。