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近年来，人们一直在探索局部电化学过程的研究。材料腐蚀的电化学测试方法局限于整个样品的宏观测试, 测试结果只反映样品的不同局部位置的整体统计结果,不能反映出局部的腐蚀及材料与环境的作用机理。为进行局部表面科学研究,微区扫描系统提供了一个新的途径,并日益得到包括局部腐蚀领域的广泛应用。代扫描参比电极技术（SRET）能探测局部腐蚀的发生。第二代扫描振动电极技术（SVET）采用振动电极测量局部 （电流，电位〕随远离被测电极表面位置的变化。 SVET具有比SRET更高的灵敏度。在SVET和SVET基础上，又提出了采用扫描Kelvin振动电极（SKP）测量不同材料表面功函数。

SKP扫描开尔文探针系统为表面科学测量提供了一个新的途径，开尔文探针是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电的、半导电的，或涂覆的材料与试样探针之间的功函差。 这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压可以测量出样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。功函和表面状况有直接关系的理论的完善使SKP成为一种很有价值的仪器，它能在潮湿甚至气态环境中进行测量的能力使原先不可能的研究变为现实。 
 
SRET和SVET主要测量材料在液体电解质环境下的局部电化学反应过程；SKP能够测量材料在不同湿度大气环境下，甚至其它气体环境下的微区特性及其随环境变化过程等。现在公司将用于液体电解质环境下的局部电化学反应过程的SVET和用于大气环境下的SKP技术有机的结合在一起，地拓展了您的研究领域，有效地利用资源，降低了您的购买费用。